EB6  Einzel-Bit-Prüfung   Stand: 02/2026
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Programm EB6_0212
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- optimal für K2526 und 64K dRAM-LP K3526
- auch für K2521 geeignet
- 2stellige Ausg. der aktuelle RAM-Adr., Form: xxFF
- Bildschirm ab F800H
- AZ im Bildspeicherbereich ab FF80H
- Prüfung ab 0400H
- Bit 7 ist rechts auf dem Bilsdchirm gekennzeichnet
- Dauertest mit Anzeige der Runden
- Bildschirm: Neubeschreiben ab Zeile 2, kein löschen
- Mehrfachprüfung der +1 / -17 Zellen mit 00H, FFH, 55H, AAH
- System besteht aus EPROM_0

- Ablauf:
  0. K2526: RESET-Teste drücken, anschl. Bildschirm löschen
  1. Ausgabe Grundgerüst
  2. RAM-Test 0400H-F7FFH, Ergebnis auf Zeile 4
     M und kein Speicher: ZRE Bit 0 bis 7 i.o.
     O und kein Speicher: ZRE hat statischen Bit-Fehler
     Ursache ist noch unbekannt; tritt bei K2521 und K2526 auf
  3. H-Bit-Prüfung, Ergebnis auf Zeilen 6 bis 13: 
     * Bit x wird auf 1 gesetzt 
     * alle anderen Bits werden wechselnd beschrieben
     * Nachbarzellen werden beschrieben
     * Bit x wird geprüft, wenn erkannt: Fehler merken
     * Prüfung ab 0400H
  4. L-Bit-Prüfung, Ergebnis auf Zeilen 15 bis 22: 
     * wie 3. aber Bit x wird auf 0 gesetzt
  5. Sprung zu 1.

- Programm kann auch ohne Speicherkarten laufen --> Test der ZRE